自动化晶片计数/方向性检测系统


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IC 封装测试制程,出货和进料晶片数量总是不对,IQC/OQC晶片数量错误时常造成困扰?自动化IC晶片计数机能解决晶片数量统计错误的困扰,改善人工目检与客诉的问题。 
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晶片方向性检测系统能解决晶片方向性的问题,协助改善制程提升良率。