自動化晶片計數/方向性檢測系統


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IC 封裝測試製程，出貨和進料晶片數量總是不對，IQC/OQC晶片數量錯誤時常造成困擾?自動化IC晶片計數機能解決晶片數量統計錯誤的困擾，改善人工目檢與客訴的問題。 
IC 晶片方向性檢測系統能解決晶片方向性的問題，協助改善製程提升良率。